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提高激光剥离技术效率的研究 11月17日

【摘要】本论文主要通过研究激光作用下GaN的温度场分布情况来研究如何提高激光剥离效率。结合一维热传导模型和GaN受热分解过程在理论上分析了激光剥离时GaN的温度场分布情况以及影响激光剥离效率的参数,并利用COMSOL软件建立二维模型分析了激光作用下GaN的温度场分布,以此为指导设计实验,细致地研究了不同条件下的激光剥离情况。所获得的的主要成果如下:(1)通过分析一维热传导模型和GaN分解的热力学过 […]

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GaN基半导体材料与HEMT器件辐照效应研究 10月11日

【摘要】空间技术的不断发展,对电子器件的可靠性提出了更高的要求。AlGaN/GaNHEMT器件在高频、大功率、高温和高压应用方面具有超强的优势,结合GaN材料出色的抗辐照特性,该器件在卫星、太空探测、核反应堆等辐射环境中有很大的应用前景。虽然理论和已有的部分实验结果已经表明了GaN材料具有出色的抗辐照特性,但是实际情况下,由于异质外延生长的GaN材料总是存在高密度的缺陷,而且GaNHEMT器件采用 […]

ZnTe薄膜和GaN基异质结构的制备及光学特性 07月18日

【摘要】以ZnO、ZnSe和ZnTe为代表的Ⅱ-Ⅵ化合物半导体和以GaN材料为代表的Ⅲ-Ⅴ族氮化物半导体材料(包括AlN、GaN、InN及其合金)在光电器件的应用上获得了快速的发展。Ⅲ-Ⅴ族氮化物具有优良的光电性质,稳定的化学性质,使其可在高温、酸碱、辐射环境下使用。它们都是直接带隙材料且带隙跨越很大,可从InN的0.7eV到AlN的6.28eV,在蓝、绿光和紫外波段的光电子器件方面应用广泛。Zn […]

利用ICP进行In掺杂对GaN基LED材料性能的影响 07月17日

【摘要】本文主要介绍一种新型的改善GaN材料p型欧姆接触特性的方法,即采用电子束蒸发技术在InGaN层上沉积一层ITO薄膜,然后通过感应耦合等离子体技术(ICP)对ITO进行轰击。通过XPS测试分析可知,ICP轰击ITO过程中,ITO中的In原子扩散至p-GaN层。通过在p-GaN上方制作欧姆接触并进行I-V测试,结果表明In掺杂后样品p型欧姆接触特性得到改善。 【作者】曾勇平;张保平;应磊莹; […]

n-ZnO纳米棒/p-GaN异质结的制备及光电性能研究 07月04日

【摘要】纤锌矿结构的ZnO是一种直接带隙宽禁带(室温下Eg=3.37eV)半导体材料,激子束缚能高达60meV。因此,用ZnO制备的发光二极管(LED)适合在高温、恶劣的环境下工作并获得高效、稳定的发光。半导体p-n结是发光器件的核心部件,被称为LED的芯片。对于ZnO来说,复杂的制备技术、缺乏理想的掺杂受主等因素导致人们仍未制备出高质量的p-ZnO,这严重阻碍了ZnO同质p-n结器件的发展。为此 […]