【摘要】随着集成电路的飞速发展，对于集成电路的检测、验证等问题也显得更加复杂，这进一步促使了人们从传统的求解思路中脱离出来，投向一个新的领域——SAT。可满足性问题(SAT)已经被证明是一个NP问题，被广泛应用于模型检测（ModelChecking），形式化验证(Formalverification)，集成电路等价性验证(Integratedcircuitequivalenceverificati […]