【摘要】半导体作为控制系统及电子设备中的最基本的元件，在国防、核电、卫星通信、航天和医学仪器等领域得到广泛的应用。各个领域对半导体的质量及可靠性提出了很高的要求。如何快速准确地检测半导体质量及可靠性成为现阶段学者们研究的主要问题。本文以齐纳二极管为研究对象，在现阶段常用的半导体可靠性评估方法的基础上，研究了齐纳二极管低频噪声特性，并研制了一套测试平台，能够准确有效的估计半导体器件的低频噪声参数，并 […]