【摘要】随着静态随机存取存储器（SRAM）单元广泛的运用于大量半导体设备的制造当中。人们对SRAM单元工作的稳定性的要求越来越高，同时还希望可以对它的有效性进行准确而高效的估计。但由于它的失效率很小，对它的估计存在一定的困难，于是我们提出了小概率事件的模拟这个问题，希望能给出有效的估计方法来解决这个问题。在这篇文章中，我们首先介绍了所要讨论问题的相关背景，提出了现在所遇到的困难，并说明了小概率事件 […]