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考虑自热效应互连性能优化及硅通孔结构热传输分析 09月03日

【摘要】随着集成电路进入纳米时代,芯片的特征尺寸不断减小而集成度持续上升,片上晶体管数目的增加大大提高了芯片的复杂度,连接芯片内部功能块的互连线结构也变的复杂,集成电路的设计重心由原来器件为主逐步向互连线上转移。集成电路的互连结构目前已经达到13层,加上低k低热导率介质材料的引入,导致互连线的热耗散路径变长、难度增大。互连线自身产生的焦耳热无疑升高了互连温度,而受温度影响的互连电阻的改变使得现有的 […]