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基于MCIS抽样的SRAM失效概率的估计 08月14日

【摘要】小概率事件的发生概率很小,但估计其发生概率具有重要的实际意义,它在很多领域得到推广和应用,比如航天工程、保险、医疗等领域.随着亚微米技术的发展,估计SRAM失效概率变得越来越重要.针对SRAM失效这一特定的小概率事件,目前的研究大多集中于正态分布的情形,本文将其推广到一般分布.在这篇文章中,我们首先介绍了小概率事件模拟的相关理论(传统的MC抽样、重要抽样、Gibbs抽样的原理).随后,我们 […]