【摘要】设计技术和生产技术的进步，使得集成电路的规模越来越大，SOC也随之出现。为了提高设计的成功率，并能产品尽快地投放市场，SOC设计中广泛采用了IP核复用技术。但随着SOC功能的不断扩大，以前一些小的SOC已成为新的IP核，这样就造成了SOC呈现了多嵌入层的结构，随之而来的层次化SOC的测试问题也越来越复杂。如何降低层次化SOC的测试复杂度，缩短其测试时间成为了一个迫切需要解决的问题。目前，设 […]