【摘要】椭圆偏振技术是一种先进的测量材料各种光学参数的方法,是一种高精度、非接触、无破坏性的光学分析技术。其主要应用有测量透明介质薄膜的厚度、折射率；材料的介电常数、吸收系数、复折射率等。椭偏法的本质是将材料的光学参数表示成椭偏参数的函数,通过探测分析反射光光强变化得到椭偏参数进而计算其他光学参数。由于数学处理的困难,椭偏法的基本原理及应用直到20世纪40年代计算机出现以后才发展起来。椭偏技术与仪 […]

【摘要】硅纳米线阵列（siliconnanowires,SiNWs）作为一维半导体纳米材料的典型代表，由于其优异的物理性质和化学性质，在纳米光电子器件，新能源以及生物检测等方面具有巨大的应用价值。但是在已报道的研究中，多数研究组以SiNWs同生长基底作为整体构筑器件。这使得SiNWs器件成本较高，并且不利于构筑柔性轻薄器件。因此发展一种使SiNWs脱离生长基底，并充分利用生长SiNWs单晶硅基底的 […]