【摘要】近年来，电子技术的飞速发展使得集成电路的应用领域越来越广，一些重要领域如军工、航空航天等都大量采用集成电路相关技术。同时，集成电路的工作频率不断提高，复杂度不断增加，其可靠性也越来越受到人们的关注。在集成电路的可靠性测试中，高温动态老化测试是重中之重。国产的第三代/第四代集成电路老化设备均已采用在集成电路老化的同时进行功能测试的技术。本文结合软硬件设计新技术，设计并实现了一种基于存储器的集 […]